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Action nationale Microscopie à force atomique en mode non contact : bases et évolutions récentes

par Hubert - publié le , mis à jour le

CINAM, Marseille Luminy, 01-03 décembre 2010

La microscopie à force atomique en mode non-contact est une technique en plein développement. Cet atelier, organisé grâce au soutien de la Mission Ressources et Compétences Technologiques (MRCT) du CNRS a pour but de réunir les personnes impliquées en France dans l’utilisation et le développement de l’AFM en mode non-contact et des techniques EFM et KPFM. 

La microscopie à force atomique en mode non-contact est une technique en plein développement. Elle donne accès à la structure des surfaces, en particulier des surfaces isolantes, jusqu’à l’échelle atomique. Il est même possible aujourd’hui de manipuler à l’unité des atomes, des molécules ou des charges comme cela a été fait avec la microscopie à effet tunnel. De plus, ce domaine a été enrichi par l’implémentation de techniques électrostatiques comme l’EFM (Electrostatic Force Microscopy) et le KPFM (Kelvin Probe Force Microscopy), qui permettent d’obtenir des informations complémentaires sur les propriétés électrostatiques de la surface. Cet atelier, organisé grâce au soutien de la Mission Ressources et Compétences Technologiques (MRCT) du CNRS a pour but de réunir les personnes impliquées en France dans l’utilisation et le développement de l’AFM en mode non-contact et des techniques EFM et KPFM. Le programme comportera une présentation détaillée de la technique et de ses applications récentes et futures ainsi qu’une partie plus spécialisée sur les différentes techniques de mesures électriques basées sur l’AFM. Ces dernières techniques se sont considérablement développées ces dernières années. Elles deviennent un complément indispensable pour de nombreuses applications.

Programme de l’ANGD Microscopie à force atomique en mode non-contact